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1 按測量手段分類
1.1 直接測量：在測量過程中，能夠直接將被測量與同類標準量進行比較，或能夠直接用事先刻度好的測量儀器對被測量進行測量，直接獲得數(shù)值的測量稱為直接測量。
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1.2 間接測量：當被測量由于某種原因不能直接測量時可以通過直接測量與被測量有一定函數(shù)關(guān)系的物理量，然后按函數(shù)關(guān)系計算被測量的數(shù)值，這種間接獲得測量結(jié)果的方式稱為間接測量。
1.3 組合測量：當某項測量結(jié)果需要用多個未知參數(shù)表達時，可通過改變測量條件進行多次測量，根據(jù)函數(shù)關(guān)系列出方程組求解，從而得到未知量的測量，稱為組合測量。
2 按測量方式分類
2.1 直讀法：用直接指出被測量大小的指示儀表進行測量，能夠直接從儀表刻度盤商或從顯示器上讀取被測量數(shù)值的測量方法，稱為直讀法。
2.2 比較法：將被測量與標準量在比較儀器中直接比較，從而獲得被測量數(shù)值的方法，稱為比較法。
3 按測量性質(zhì)分類
3.1 時域測量：時域測量也叫作瞬時測量，主要是測量被測量隨時間的變化規(guī)律。如用示波器觀察脈沖信號的上升沿、下降沿、平頂降落等脈沖參數(shù)以及動態(tài)電路的暫態(tài)過程。
3.2 頻域測量：頻域測量也稱為穩(wěn)態(tài)測量，主要目的是獲取待測量與頻率之間的關(guān)系。如用頻譜分析儀分析信號的頻譜，測量放大器的幅頻特性、相頻特性等。
3.3 數(shù)據(jù)域測量：數(shù)據(jù)域測量也稱邏輯量測量，主要是對數(shù)字信號或電路的邏輯狀態(tài)進行測量，如用邏輯分析儀等設(shè)備測量計數(shù)器的狀態(tài)。